X-Strata920金屬表面鍍層分析儀

*大化精度，*小化浪費(fèi)

當(dāng)決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時(shí)，請(qǐng)選擇X-Strata920進(jìn)行**鍍層分析

如果您在電子產(chǎn)品或金屬表面處理行業(yè)工作，我們可提供適于您業(yè)務(wù)的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇，可分析單鍍層和多鍍層（包括合金層）。

我們的內(nèi)部專家會(huì)對(duì)常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試及測(cè)量，確保您獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。

X-Stata920提供四種基臺(tái)配置以適應(yīng)任意形狀的零件。帶有標(biāo)準(zhǔn)或?qū)捁潭ɑ_(tái)的開槽的樣品艙適合處理小型零件或長(zhǎng)而薄的樣品，而加深樣品艙則可靈活測(cè)量較高的零件。選擇程控樣品臺(tái)，可自動(dòng)測(cè)量多個(gè)樣品或單個(gè)組件上的各個(gè)位置。

為工作選擇正確的工具
通過選擇比例計(jì)數(shù)器或硅漂移探測(cè)器（SDD），可確保擁有正確配置。比例計(jì)數(shù)器適用于大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合，但對(duì)于含有少量種類元素的簡(jiǎn)單鍍層結(jié)構(gòu)而言，其效果*佳。當(dāng)您需要分析更復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)或需要測(cè)量非常薄的鍍層（<0.05μm）時(shí)，推薦使用SDD。

X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時(shí)通過避免過度電鍍?cè)斐傻幕瘜W(xué)品浪費(fèi)和減少電鍍不足造成的廢料和返工來降低成本。操作員
只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方，使用激光焦點(diǎn)對(duì)齊，即可開始測(cè)量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個(gè)任務(wù)。這意味著您可確保在操作中*大限度地提高生產(chǎn)力。得益于通過可追溯標(biāo)準(zhǔn)打造的優(yōu)化校準(zhǔn)方式，您將對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性充滿信心。
使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如IPC4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。

借助直觀而強(qiáng)大的 SmartLink 軟件，您可在幾分鐘內(nèi)就成為專業(yè)用戶，該軟件旨在簡(jiǎn)化操作員的日常分析工作